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产品详细页红外线测厚仪RX200
- 产品型号:RX200
- 更新时间:2024-03-19
- 产品介绍:RX-200 测量方法:红外线反射吸收式
分光方式:旋转过滤器方式(可以实际装载6张)
测量距离:25mm(本体部下方面)
测量面积:5×8mm(椭圆)
尺寸?重量:230 (W)×134(D)×90(H),约4.5kg - 在线留言86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339
产品介绍
正反射P偏光型标准在线膜厚计!消除了引起误差的表面反射,可以正确进行测量。
如果把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象。从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚。
并且,采用本公司独自的P偏光入射方式。消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪的硬件。
- 节省空间(在线)
因为是小型传感器头,故不受放置空间约束。只需占用现有生产线上的狭小空间。 - 瞬间测量
无需任何前处理。且可实现非破坏、非接触的瞬间测量。 - 广泛的适应性
通过由zui大6波长组成的滤光器,可以测量各种材质的膜厚及水分。 - 出众的测量精度
通过采用本公司独自的P偏光方式,即使是几μm以下的薄膜,也可得到稳定的测量结果。 - 拥有值得信赖的长期稳定性
根据周围环境和装置的变动,采用3波长测光方式确保长期性的精度。
用途例
- LCD用光学薄膜测厚
- 聚合电池的隔离板测厚
- 彩色显像管荫罩的感光乳剂测厚
- 铝箔上的乙烯涂层测厚
- 防雾加工薄膜的防雾剂涂层测厚
- 复合膜的粘合剂涂层测厚
- 收缩标签的脱胶检查等
- 钢板上的有机附着量测量
规格
项目 | 规格 | |
---|---|---|
测量方法 | 红外线反射吸收式 | |
分光方式 | 旋转过滤器方式(可以实际安装6张) | |
测量距离 | 25mm(从本体部下面) | |
测量面积 | 5×8mm(椭圆) | |
尺寸、重量、电源 | 传感器头 | 230(W)×134(D)×90(H)、约4.5kg(不含突起部) |
数据处理部 | 275(W)×300(D)×165(H)、约6.7kg(不含突起部) | |
中继单元部 | 250(W)×140(D)×113(H)、约3kg(不含突起部) | |
外部输出 | 从模拟0~10v 到4~20mA进行选择(出厂时设定) | |
环境温度 | 0~40℃(没有结露) | |
电源 | AC100V±10% 50/60Hz |
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